報告題目：In situ electron microscopy for probing material structures and properties

報告人： Prof. Chaoying Ni（倪超英）, 美國特拉華大學(xué)(University of Delaware)

報告時間：4.2（周二）上午10：00點

報告地點：東區(qū)明行樓112教室

倪超英教授簡介：

    1997年獲美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)博士，物理系博士后，1997-2001歷任巴塔公司(Batta Labs)、羅德爾公司(Rodel, 現(xiàn)Dow Chemical) 實驗室主管及研究科學(xué)家等職。2001年回到特拉華大學(xué)，現(xiàn)為該校材料科學(xué)與工程系終身教授，W. M. Keck先進顯微技術(shù)及分析中心主任，同時也是常州大學(xué)兼職教授，《常州大學(xué)學(xué)報》特邀外籍編委。主要研究領(lǐng)域: 現(xiàn)代電子顯微技術(shù)在材料科學(xué)中的應(yīng)用、納米催化表面和界面、先進復(fù)合材料、太陽能及光熱電轉(zhuǎn)換等。在Journal of the American Chemical Society, Langmuir, Applied CatalysisB:Environmental, Applied Physics Letters, Nano Letters, Journal of Power Sources, Green Chemistry, Solar Energy Materials and Solar Cells, Nature Communications，Physical review B等期刊發(fā)表論文180余篇。